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Microscopie à force piézoélectrique

La microscopie à force piézoélectrique (abrégée en PFM, de l'anglais Piezoresponse force microscopy) est un mode d'utilisation du microscope à force atomique (AFM) qui permet d'imager et de manipuler les domaines ferroélectriques d'un matériau. Pour ce faire, …

Article Wikipédia (CC BY-SA 4.0)
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